2017年12月30日 · 硅片在插入石英舟卡槽前,先将硅片与石英舟两侧的卡槽对齐,再将硅片 平滑的插入到石英舟底部的卡槽,确认硅片与石英舟地步卡槽接触到之后在 石英舟卸片卸片 卸片时尽量避免硅片之间的摩擦,每盒最高底部一片扩散面朝 上,最高上面一片扩散面朝下
2011年11月26日 · 脱晶就是硅片有很多小的硅晶颗粒组成的,脱落就是一块小的缺失
2014年12月26日 · 由于各种原因,会出现 电池片 粉末状脱落现象,本文将对该问题进行浅析。 浆料有导体浆料、电阻浆料、介质浆料和包封浆料等,浆料是由功能组份、粘结组份和有机载体组成的一种流体。 在背银,背铝及正银工序中所用浆料为导体浆料。 在导体浆料中,功能组份一般为贵金属或贵金属的混合物。 载体是聚合物在有机溶剂中的溶液。 功能组份决定了成膜后的电
2019年7月30日 · Corescan的扫描头包含一个光源和金属探针（Fig.2-5）,扫描过程中,将电池片短路连接,扫描头以固定的扫描间距、速度移动,光源照射在电池片上产生光生电流,同时金属探针在电池片表面划动,测量光照位置的电压值,电压值即表征了电池片正面的串联
2020年3月19日 · Corescan的扫描头包含一个光源和金属探针（Fig.2-5）,扫描过程中,将电池片短路连接,扫描头以固定的扫描间距、速度移动,光源照射在电池片上产生光生电流,同时金属探针在电池片表面划动,测量光照位置的电压值,电压值即表征了电池片正面的串联电阻
2020年12月18日 · EL全方位称为Electroluminescence,中文译为电致发光,亦叫做场致发光,其目的用于检测组件上电池片缺陷,以控制质量。 EL测试基本原理是晶体硅太阳电池片外加正向偏置电压,电源向晶体硅电池注入大量非平衡载流子,电致发光依靠从扩散区注入的大量非平衡载流子不断的复合发光,放出光子；再利用CCD相机捕捉这些光子,通过计算机处理后成图像,整个测
2016年4月26日 · 由于缺陷影响硅单晶材料的质量,对器件及太阳能电池片有不良的影响,所 以我们需要研究其性质和行为。 在研究过程中也出现了越来越多的问题,但现在
2023年9月20日 · 晶体硅组件常见缺陷主要包括：隐裂,黑芯片,破片,断栅,虚焊等,通过EL测试可以发现以往常规手段难以发现的品质缺陷,对光伏电池品质提升起到重要作用。
2020年3月19日 · 太阳能电池片常见缺陷处理摘要:针对晶体硅太阳电池缺陷的检测问题,利用多种测试设备（EL、PL、Corescan等）,在电池制作的主要工序段（扩散、镀膜、印刷、烧结）对硅片和电池片进行检测,归纳和总结了电池的各种典型缺陷的成因,利用这些检测手
本文主要对 晶硅电池氧化片 进行分析,通过扫描电子显微镜（SEM）、X射线能谱分析（EDS）等分析表征,探讨了样品结构及化学组态等物理化学性质,进一步确认晶硅电池氧化片的成因。